老鵝日報 | 外媒稱與台積電有嫌隙!黃仁勳斥「假新聞」:晶片瑕疵全是輝達的錯
2024/11/09 星期六

外媒稱與台積電有嫌隙!黃仁勳斥「假新聞」:晶片瑕疵全是輝達的錯

2024-10-24 16:22:00
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擷取自NVIDIA官網。

外媒《The Information》日前指稱輝達發布最新AI晶片「Blackwell」後,因晶片測試出狀況,與台積電有過衝突。輝達執行長黃仁勳於當地時間23日駁斥「假新聞」,並說明晶片確實有過瑕疵,但「100%是輝達的問題」,且在台積電協助下順利解決。

黃仁勳表示,該報導確有其事但內容有誤,當時Blackwell能夠運作,但因設計問題導致良率不高,不過完全是輝達的錯,長期夥伴台積電反而在解決問題上,提供不少協助。

黃仁勳說明,為了推出可運作的Blackwell晶片,輝達從零開始設計7種版本並開始量產,台積電則協助輝達處理良率問題,過程中扮演十分重要的角色,且以難以置信的速度恢復量產。

黃仁勳表示,《The Information》指稱生產延宕造成雙方關係緊張、互相指責的報導為「假新聞」。

此前,外媒報導提到,輝達3月發表Blackwell晶片,且曾表示第2季就會開始出貨,卻因故延宕,恐影響Meta、Alphabet、Google、Microsoft等科技大廠;黃仁勳後續表示,Blackwell將於第4季出貨。

《The Information》先前引述知情人士說法,指稱輝達工程師測試時發現,Blackwell在高壓環境下無法運作,內部出現意見分歧,一派認為輝達設計有缺陷,一派則認為採用台積電CoWoS-L封裝技術,才會出現問題。

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