外媒稱與台積電有嫌隙！黃仁勳斥「假新聞」：晶片瑕疵全是輝達的錯

何睿哲

2024-10-24 16:22:00

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擷取自NVIDIA官網。

外媒《The Information》日前指稱輝達發布最新AI晶片「Blackwell」後，因晶片測試出狀況，與台積電有過衝突。輝達執行長黃仁勳於當地時間23日駁斥「假新聞」，並說明晶片確實有過瑕疵，但「100%是輝達的問題」，且在台積電協助下順利解決。

黃仁勳表示，該報導確有其事但內容有誤，當時Blackwell能夠運作，但因設計問題導致良率不高，不過完全是輝達的錯，長期夥伴台積電反而在解決問題上，提供不少協助。

黃仁勳說明，為了推出可運作的Blackwell晶片，輝達從零開始設計7種版本並開始量產，台積電則協助輝達處理良率問題，過程中扮演十分重要的角色，且以難以置信的速度恢復量產。

黃仁勳表示，《The Information》指稱生產延宕造成雙方關係緊張、互相指責的報導為「假新聞」。

此前，外媒報導提到，輝達3月發表Blackwell晶片，且曾表示第2季就會開始出貨，卻因故延宕，恐影響Meta、Alphabet、Google、Microsoft等科技大廠；黃仁勳後續表示，Blackwell將於第4季出貨。

《The Information》先前引述知情人士說法，指稱輝達工程師測試時發現，Blackwell在高壓環境下無法運作，內部出現意見分歧，一派認為輝達設計有缺陷，一派則認為採用台積電CoWoS-L封裝技術，才會出現問題。

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